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X线头影测量分析.ppt

内容介绍：LOGOX线头影测量分析Cephalometrics Analysis简介Company Logo 1934年Hofrath and Broadbent 提出 我国于20世纪60年代初运用于临床X线头影测量分析Company Logo通过测量X 线头颅定位照相所得的影像,对牙颌、颅 面各标志点描绘出一定的线角进行测量分析,从而了解牙 颌、颅面软硬组织的结构,使对牙颌、颅面的检查诊断由 表面形

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